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Ux-2100 Plus X射线荧光光谱仪
型号：Ux-2100 Plus
一、 仪器概述
X射线光管出射谱由两部分组成：连续散射线（也称为制动辐射Bremsstrahlung）与靶材特征射线（characteristic X-ray），入射射线经样品后的散射是元素特征荧光射线背景的主要来源，传统的能量色散X射线荧光光谱仪采用滤光片技术，虽然有效减少入射射线背景干扰，但也大幅降低了用于激发元素荧光射线的入射射线强度。
双曲面弯晶与X射线管构成理想的X射线激发源，其具有单一能量入射，消除了连续散射线背景；通过对靶材特征射线的单色化衍射，高效激发特定能量段元素；具有聚焦特性，最有利于SDD探测器对荧光信号的收集。
深圳鑫华唯最新研制的双源单波长X射线荧光光谱仪Ux-2100 Plus，其采用双X射线光管，每个光管对应双曲面弯晶，组成双单色化光路。同时采用最新的大窗口SDD探测器，用于分辨和收集元素特征荧光射线。
双源单波长X射线荧光光谱仪Ux-2100 Plus是创新型XRF，具有轻元素检测能力强、元素范围宽、配置可选、稳定可靠等特点，极大提升元素分析精度和行业应用范围。
二、 特点优势
1. 双单色化入射光路
50W微焦斑X射线光管与双曲面弯晶（可配置LiF、Ge、Si类型DCC）组成单色化入射光路，消除散射线背景，增加激发效率，元素灵敏度大幅提升。
2. 聚焦激发
双曲面弯晶（DCC）具有点到点衍射特性，将单色化能量汇聚到样品一点（通常面积~φ5mm）,聚焦能量进一步增加激发效率，同时增加SDD探测效率。
3. 先进的能量色散探测器
双源单波长X射线荧光光谱仪Ux-2100 Plus采用最先进的硅漂移探测器，具有高于1000kcps的计数率和优异的分辨率＜130eV@Fe:Ka。
4. 真空光路
为激发和探测轻元素，采用真空光路设计，避免消耗气体，维护方便，长期稳定可靠。
三、 应用范围
1. 塑料、玩具、电子产品中RoHS限定元素检测；
2. 环境物质中无机元素含量检测；
3. 矿石冶炼行业从矿体到金属产品中元素含量分析；
4. 材料科学与锂电池材料元素含量分析；
5. 石油化工产品中微量元素与金属元素含量检测；
6. 科学研究。
四、 技术参数
序号 | 性能指标 | 技术参数 |
1 | 测试范围 | 元素周期表C6-U92之间的元素 |
2 | 可测样品的种类 | 固体、液体、粉末（任何材质的样品） |
3 | 元素检出限 | 超轻元素（C-F）：O - LOD≤0.3%，F - LOD≤0.05%；重金属元素（Co-U）：Pb/As - LOD＜0.2mg/kg，Cd-LOD＜0.1mg/kg。（C、H、O、N为主量元素的轻基体样品，元素分析时间以300秒计） |
4 | 重复性 | 超轻元素：F含量1%，RSD＜7.5%；轻元素：S含量50mg/kg，RSD＜5%；重金属元素：Pb/As/Cd含量1mg/kg，RSD＜10%。（轻基体样品，元素分析时间600秒，7次分析重复性结果） |
5 | 长期稳定性 | 24小时能量漂移≤2eV；一周内元素定量示值漂移≤1%。 |
6 | 测试时间 | 30-300S（可以任意调节） |
7 | 照射方式 | 下照式，自下向上照射样品 |
8 | 光源系统 | 采用单色化聚焦入射技术，可通过全聚焦型双曲面弯晶或二次靶等成熟技术路线实现X射线单色化并聚焦于样品表面。 |
9 | X射线光管 | 双X射线管，微焦斑面积φ100um，最大高压60KV，最高电流2mA |
10 | 探测器 | 电制冷高分辨SDD 探测器 |
11 | 探测器能量分辨率 | ≤139eV@Mn Kα，最大计数率≥1000kcps。 |
12 | 高压电源 | 0-50kev，0-2mA ，50W |
13 | 高压保护措施 | 过压自保护，自恢复 |
14 | 弯晶系统 | 单色化双曲面弯晶（两个，可选配） |
15 | 工作环境温/湿度 | 温度 :15-30℃ ；湿度：≤75% （不结露） |
16 | 输入电源 | AC 220V±15%，50Hz |
17 | 辐射防护标准 | 远高于国标GB18871-2002 GBZ115-2002标准 |
（详细指标，请咨询公司专业人员确定！）
五、仪器特点
（1）自动校准，确保仪器测试数据的准确性
仪器自动校准，确保仪器测试数据的准确性；
（2）测试结束，音乐提醒
样品测试结束时，有音乐提醒，提示跟换样品，提高工作效率；
（3）开放式工作曲线
开放式工作曲线标定功能，客户可自主增加测试项目；
（4）多种报告输出形式
可自定义多种报告输出形式，如PDF、Excel等；报告模板自定义设计；
（5）超大数据库，自动保存结果
超大数据库，确保测试结果的准确性；
（6）限定标准，自由设定
不同客户可设置不同的限定标准，告别繁琐的更换限定值的烦恼；
（7） 集成数据统计功能
集成数据统计功能，方便品质部门筛选统计供应商、物料名称、部件以及通过不同时间段测试状况；
（8）测试数据自动备份和还原
测试数据一键备份\还原功能，避免因误操作或其它原因造成的损失，保障数据及系统文件安全；
（9） 支持大样品测试
支持大样品测试功能，并有流程指引设计；
（10）基本参数法
独立自主开发的基本参数法（FP）系统，具有图形界面、谱图可视、支持开发等特点。
